X-ray phase scanning setup for non-destructive testing using Talbot-Lau interferometer

S. Bachche, M. Nonoguchi, K. Kato, M. Kageyama, T. Koike, M. Kuribayashi, A. Momose

研究成果: Conference contribution

3 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「X-ray phase scanning setup for non-destructive testing using Talbot-Lau interferometer」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Mathematics

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy

Chemical Compounds