Visualization of traps at SiO2/SiC interfaces near the conduction band by local deep level transient spectroscopy at low temperatures

Takayuki Abe, Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

研究成果: Article査読

フィンガープリント

「Visualization of traps at SiO<sub>2</sub>/SiC interfaces near the conduction band by local deep level transient spectroscopy at low temperatures」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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