VIB-1 New Hot-Carrier-Induced Degradation Phenomena in Half-Micrometer MOS Transistors

Akihiro Nitayama, Naoko Takenouchi, Takeshi Hamamoto, Yukihito Oowaki

研究成果: Article査読

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フィンガープリント

「VIB-1 New Hot-Carrier-Induced Degradation Phenomena in Half-Micrometer MOS Transistors」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。