Time-of-flight spectroscopy of positronium emission from SiO2 surface

Y. Morinaka, Y. Nagashima, Y. Nagai, T. Hyodo, T. Kurihara, T. Shidara, K. Nakahara

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抄録

The time-of-flight of positronium emitted from single crystal and amorphous SiO2 has been measured using a high-intensity pulsed positron beam at KEK. For the both samples, two components, of peak energies around 1eV and 3eV, have been observed.

本文言語English
ページ(範囲)689-691
ページ数3
ジャーナルMaterials Science Forum
255-257
出版ステータスPublished - 1997 1月 1
外部発表はい

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「Time-of-flight spectroscopy of positronium emission from SiO2 surface」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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