Thermal fatigue of high-purity aluminum thin films under thermal cycle testing

S. Ri, T. Sugano, M. Saka, M. Yamashita, F. Togoh

研究成果: Article査読

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フィンガープリント

「Thermal fatigue of high-purity aluminum thin films under thermal cycle testing」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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