The formation of nanometer-scale gaps by electrical degradation and their application to C60 transport measurements

K. Tsukagoshi, E. Watanabe, I. Yagi, Y. Aoyagi

研究成果: Conference article査読

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抄録

Nanometer-scale electrodes with a nanogap allow us to investigate electrical transport in nanoparticles. Because many nanomaterials usually form grain boundaries or domain boundaries with high tunneling resistance, it is difficult to investigate nanoparticle properties through a series of tunneling resistances. To make direct contact with the single nanoparticle, we developed a metallic electrode structure and demonstrated direct fullerene C60 nanocrystal transport.

本文言語English
ページ(範囲)686-688
ページ数3
ジャーナルMicroelectronic Engineering
73-74
DOI
出版ステータスPublished - 2004 6月
外部発表はい
イベントMicro and Nano Engineering 2003 - Cambridge, United Kingdom
継続期間: 2003 9月 222003 9月 25

ASJC Scopus subject areas

  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
  • 原子分子物理学および光学
  • 凝縮系物理学
  • 表面、皮膜および薄膜
  • 電子工学および電気工学

フィンガープリント

「The formation of nanometer-scale gaps by electrical degradation and their application to C60 transport measurements」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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