Temperature controlled scanning nonlinear dielectric microscopy

K. Ohara, Yasuo Cho

研究成果: Conference article査読

抄録

Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy (SNDM) can obtain the linear and nonlinear dielectric constant distribution of dielectric and ferroelectric materials with sub-nanometer resolution. In this paper, we present the new type of SNDM which can control the sample temperature (80K-730K) in vacuum (less than 5×10-7 Torr), and its application to measure the surface polarization state on LiTaO3 single crystal.

本文言語English
ページ(範囲)27-34
ページ数8
ジャーナルMaterials Research Society Symposium - Proceedings
803
出版ステータスPublished - 2003 12月 1
イベントAdvanced data Storage Materials and Characterization Techniques - Boston, MA, United States
継続期間: 2003 12月 12004 12月 4

ASJC Scopus subject areas

  • 電子材料、光学材料、および磁性材料

フィンガープリント

「Temperature controlled scanning nonlinear dielectric microscopy」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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