メインナビゲーションにスキップ
検索にスキップ
メインコンテンツにスキップ
東北大学 ホーム
English
日本語
ホーム
プロファイル
研究部門
研究成果
専門知識、名前、または所属機関で検索
Substrate orientation dependence of first- And second-oxide-layer growth kinetics: Comparison between Si(001)2 × 1 and Si(111)7 × 7 surfaces
Shuichi Ogawa
,
Yuji Takakuwa
多元物質科学研究所・計測研究部門
研究成果
:
Conference contribution
概要
フィンガープリント
フィンガープリント
「Substrate orientation dependence of first- And second-oxide-layer growth kinetics: Comparison between Si(001)2 × 1 and Si(111)7 × 7 surfaces」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
並べ替え順
重み付け
アルファベット順
Chemistry
Oxide
100%
Surface
80%
Oxidation Reaction
40%
Adsorption
40%
Chemical Kinetics Characteristics
40%
Electron Particle
20%
Reflection High Energy Electron Diffraction
20%
Auger Electron Spectroscopy
20%
Time
20%
Rate
20%
Material Science
Surface
80%
Surface Morphology
20%