Strain distribution near Si/NiSi2 interface measured by convergent beam electron diffraction

Yutaka Wakayama, Yumiko Takahashi, Shun ichiro Tanaka

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フィンガープリント

「Strain distribution near Si/NiSi2 interface measured by convergent beam electron diffraction」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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