Soft X-ray magnetic circular dichroism of Cr-doped GaN

H. Makino, J. J. Kim, T. Nakamura, T. Muro, K. Kobayashi, T. Yao

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抄録

Soft X-ray magnetic circular dichroism (XMCD) have been measured for the Ga0.97Cr0.03N film grown by NH3-assisted molecular beam epitaxy. Temperature dependence of the XMCD intensity was well described by the Curie-Weiss law. Although the sample showed ferromagnetic behavior at least up to room temperature, the ferromagnetic component could not be detected by the XMCD measurement.

本文言語English
ページ(範囲)615-617
ページ数3
ジャーナルCurrent Applied Physics
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6
DOI
出版ステータスPublished - 2004 11
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  • 物理学および天文学(全般)

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「Soft X-ray magnetic circular dichroism of Cr-doped GaN」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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