Scanning probe microscopy

Masami Kageshima, Ken Ichi Fukui, Tadahiro Komeda, Ken Nakajima, Tomonobu Nakayama, Koji Sumitomo, Takuji Takahashi, Takayuki Uchihashi

    研究成果: Editorial査読

    本文言語English
    論文番号08L001
    ジャーナルJapanese journal of applied physics
    54
    8
    DOI
    出版ステータスPublished - 2015 8 1

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    • 工学(全般)
    • 物理学および天文学(全般)

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