Scanning nonlinear dielectric microscopy with nanometer resolution

Yasuo Cho, Satoshi Kazuta, Kaori Matsuura

研究成果: Article査読

175 被引用数 (Scopus)

抄録

A very high-resolution scanning nonlinear dielectric microscope was developed for the observation of ferroelectric polarization. We demonstrate that the resolution of the microscope is of a nanometer order by measurement of the c-c domain wall of a BaTiO3 single crystal, and that this microscope is very useful not only for the domain observation of ferroelectric bulk material but also for that of thin films.

本文言語English
ページ(範囲)2833-2835
ページ数3
ジャーナルApplied Physics Letters
75
18
DOI
出版ステータスPublished - 1999 11月 1

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  • 物理学および天文学(その他)

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「Scanning nonlinear dielectric microscopy with nanometer resolution」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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