Roundness measurement using angle probes

I Ko, Eijiro Sato, Satoshi Kiyono

研究成果: Conference article査読

4 被引用数 (Scopus)

抄録

A new error-separation method using multiple angle probes is presented. This method can separate roundness error and spindle error from each other. The effectiveness of the new method is shown by comparing with the conventional displacement three-probe method.

本文言語English
ページ(範囲)408-411
ページ数4
ジャーナルProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
4222
DOI
出版ステータスPublished - 2000 12 1
イベントProcess Control and Inspection for Industry - Beijing, China
継続期間: 2000 11 82000 11 10

ASJC Scopus subject areas

  • 電子工学および電気工学
  • 凝縮系物理学

フィンガープリント

「Roundness measurement using angle probes」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

引用スタイル