Resistance drift of MgO magnetic tunnel junctions by trapping and degradation of coherent tunneling

Keiji Hosotani, Makoto Nagamine, Hisanori Aikawa, Naoharu Shimomura, Masahiko Nakayama, Tadashi Kai, Sumio Ikegawa, Yoshiaki Asao, Hiroaki Yoda, Akihiro Nitayama

研究成果: Conference contribution

11 被引用数 (Scopus)
本文言語English
ホスト出版物のタイトル46th Annual 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, IRPS
ページ703-704
ページ数2
DOI
出版ステータスPublished - 2008
外部発表はい
イベント46th Annual 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS - Phoenix, AZ, United States
継続期間: 2008 4月 272008 5月 1

出版物シリーズ

名前IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings
ISSN(印刷版)1541-7026

Other

Other46th Annual 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium, IRPS
国/地域United States
CityPhoenix, AZ
Period08/4/2708/5/1

ASJC Scopus subject areas

  • 工学(全般)

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