Reliability study of parasitic source and drain resistances of InP-based HEMTs

T. Suemitsu, Y. K. Fukai, H. Sugiyama, K. Watanabe, H. Yokoyama

研究成果: Conference article査読

8 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント 「Reliability study of parasitic source and drain resistances of InP-based HEMTs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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