Raman spectroscopy: Characterization of edges, defects, and the Fermi energy of graphene and sp 2 Carbons

M. S. Dresselhaus, A. Jorio, L. G. Cançado, G. Dresselhaus, R. Saito

研究成果: Chapter

14 被引用数 (Scopus)

抄録

From the basic physical concepts relating to the Raman spectra of graphene, we can develop characterization methods for point defects and the edge structure. Furthermore, the Fermi energy can be studied by the phonon softening phenomena of the Raman spectra. Finally, we also discuss recent progress on nearfield optics.

本文言語English
ホスト出版物のタイトルGraphene Nanoelectronics
ホスト出版物のサブタイトルMetrology, Synthesis,Properties and Applications
編集者Hassan Raza
ページ15-55
ページ数41
DOI
出版ステータスPublished - 2012

出版物シリーズ

名前NanoScience and Technology
57
ISSN(印刷版)1434-4904

ASJC Scopus subject areas

  • 材料科学(全般)
  • 凝縮系物理学
  • 電子工学および電気工学

フィンガープリント

「Raman spectroscopy: Characterization of edges, defects, and the Fermi energy of graphene and sp 2 Carbons」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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