Probing stem cell differentiation using atomic force microscopy

Xiaobin Liang, Xuetao Shi, Serge Ostrovidov, Hongkai Wu, Ken Nakajima

研究成果: Article査読

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抄録

A real-time method using atomic force microscopy (AFM) was developed to probe stem cell differentiation by measuring the mechanical properties of cells and the extracellular matrix (ECM). The mechanical properties of stem cells and their ECMs can be used to clearly distinguish specific stem cell-differentiated lineages. It is clear that AFM is a facile and useful tool for monitoring the differentiation of stem cells in a non-invasive manner.

本文言語English
ページ(範囲)254-259
ページ数6
ジャーナルApplied Surface Science
366
DOI
出版ステータスPublished - 2016 3月 15
外部発表はい

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