Power noise measurements of cryptographic VLSI circuits regarding side-channel information leakage

Daisuke Fujimoto, Noriyuki Miura, Makoto Nagata, Yu-Ichi Hayashi, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Yohei Hori, Toshihiro Katashita, Kazuo Sakiyama, Thanh Ha Le, Julien Bringer, Pirouz Bazargan-Sabet, Shivam Bhasin, Jean Luc Danger

研究成果: Article査読

2 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント 「Power noise measurements of cryptographic VLSI circuits regarding side-channel information leakage」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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