Noise measurements of a 45-GHz mode-locked laser diode

L. A. Jiang, M. E. Grein, E. P. Ippen, H. A. Haus, T. Shimizu, H. Kurita, H. Yokoyama

研究成果: Paper

抜粋

The carrier phase noise is measured using a Michelson interferometer and the intensity noise by direct detection of a mode-locked laser diode. Implications for short pulse systems are highlighted.

元の言語English
ページ98-99
ページ数2
DOI
出版物ステータスPublished - 2000 1 1
外部発表Yes
イベントConference on Lasers and Electro-Optics (CLEO 2000) - San Francisco, CA, USA
継続期間: 2000 5 72000 5 12

Other

OtherConference on Lasers and Electro-Optics (CLEO 2000)
San Francisco, CA, USA
期間00/5/700/5/12

ASJC Scopus subject areas

  • Physics and Astronomy(all)

フィンガープリント Noise measurements of a 45-GHz mode-locked laser diode' の研究トピックを掘り下げます。これらはともに一意のフィンガープリントを構成します。

  • これを引用

    Jiang, L. A., Grein, M. E., Ippen, E. P., Haus, H. A., Shimizu, T., Kurita, H., & Yokoyama, H. (2000). Noise measurements of a 45-GHz mode-locked laser diode. 98-99. 論文発表場所 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO 2000), San Francisco, CA, USA, . https://doi.org/10.1109/cleo.2000.906773