Modeling and implementation of subthreshold characteristics of accumulation-mode MOSFETs for various SOI layer thickness and impurity concentrations

Rihito Kuroda, Akinobu Teramoto, W. Cheng, Shigetoshi Sugawa, T. Ohmi

研究成果: Conference contribution

3 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント 「Modeling and implementation of subthreshold characteristics of accumulation-mode MOSFETs for various SOI layer thickness and impurity concentrations」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。