Measurements of the linear electro-optic coefficients of ZnTe by RDS

T. Mori, N. Kumagai, T. Yasuda, T. Takai, J. H. Chang, T. Hanada, T. Yao

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抄録

The linear electro-optic (LEO) or Pockels coefficient above the fundamental edge E0 of ZnTe has not been determined yet as far as we know. In this work, we have measured the LEO coefficient of ZnTe in the absorbing region by reflectance difference or reflectance anisotropy spectroscopy (RDS or RAS), and we have obtained two remarkable peaks near the E1 and E1 + Δ1 critical points.

本文言語English
ページ(範囲)605-609
ページ数5
ジャーナルPhysica Status Solidi (B) Basic Research
229
1
DOI
出版ステータスPublished - 2002 8 29

ASJC Scopus subject areas

  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
  • 凝縮系物理学

フィンガープリント

「Measurements of the linear electro-optic coefficients of ZnTe by RDS」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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