Measurement of the inclusive semielectronic [Formula presented] branching fraction

Y. Kubota, M. Lattery, J. K. Nelson, S. Patton, R. Poling, T. Riehle, V. Savinov, R. Wang, M. S. Alam, I. J. Kim, Z. Ling, A. H. Mahmood, J. J. O'Neill, H. Severini, C. R. Sun, S. Timm, F. Wappler, G. Crawford, J. E. Duboscq, R. FultonD. Fujino, K. K. Gan, K. Honscheid, H. Kagan, R. Kass, J. Lee, M. Sung, C. White, R. Wanke, A. Wolf, M. M. Zoeller, X. Fu, B. Nemati, W. R. Ross, P. Skubic, M. Wood, M. Bishai, J. Fast, E. Gerndt, J. W. Hinson, T. Miao, D. H. Miller, M. Modesitt, E. I. Shibata, I. P.J. Shipsey, P. N. Wang, L. Gibbons, S. D. Johnson, Y. Kwon, S. Roberts, E. H. Thorndike, T. E. Coan, J. Dominick, V. Fadeyev, I. Korolkov, M. Lambrecht, S. Sanghera, V. Shelkov, R. Stroynowski, I. Volobouev, G. Wei, M. Artuso, M. Gao, M. Goldberg, D. He, N. Horwitz, S. Kopp, G. C. Moneti, R. Mountain, F. Muheim, Y. Mukhin, S. Playfer, T. Skwarnicki, S. Stone, X. Xing, J. Bartelt, S. E. Csorna, V. Jain, S. Marka, D. Gibaut, K. Kinoshita, P. Pomianowski, S. Schrenk, B. Barish, M. Chadha, S. Chan, D. F. Cowen, G. Eigen, J. S. Miller, C. O'Grady, J. Urheim, A. J. Weinstein, F. Würthwein, D. M. Asner, M. Athanas, D. W. Bliss, W. S. Brower, G. Masek, H. P. Paar, J. Gronberg, C. M. Korte, R. Kutschke, S. Menary, R. J. Morrison, S. Nakanishi, H. N. Nelson, T. K. Nelson, C. Qiao, J. D. Richman, D. Roberts, A. Ryd, H. Tajima, M. S. Witherell, R. Balest, K. Cho, W. T. Ford, M. Lohner, H. Park, P. Rankin, J. Roy, J. G. Smith, J. P. Alexander, C. Bebek, B. E. Berger, K. Berkelman, K. Bloom, T. E. Browder, D. G. Cassel, H. A. Cho, D. M. Coffman, D. S. Crowcroft, M. Dickson, P. S. Drell, D. J. Dumas, R. Ehrlich, R. Elia, P. Gaidarev, B. Gittelman, S. W. Gray, D. L. Hartill, B. K. Heltsley, S. Henderson, C. D. Jones, S. L. Jones, J. Kandaswamy, N. Katayama, P. C. Kim, D. L. Kreinick, T. Lee, Y. Liu, G. S. Ludwig, J. Masui, J. Mevissen, N. B. Mistry, C. R. Ng, E. Nordberg, J. R. Patterson, D. Peterson, D. Riley, A. Soffer, C. Ward, P. Avery, A. Freyberger, K. Lingel, C. Prescott, J. Rodriguez, S. Yang, J. Yelton, G. Brandenburg, D. Cinabro, T. Liu, M. Saulnier, R. Wilson, H. Yamamoto, T. Bergfeld, B. I. Eisenstein, J. Ernst, G. E. Gladding, G. D. Gollin, M. Palmer, M. Selen, J. J. Thaler, K. W. Edwards, K. W. McLean, M. Ogg, A. Bellerive, D. I. Britton, E. R.F. Hyatt, R. Janicek, D. B. MacFarlane, P. M. Patel, B. Spaan, A. J. Sadoff, R. Ammar, P. Baringer, A. Bean, D. Besson, D. Coppage, N. Copty, R. Davis, N. Hancock, S. Kotov, I. Kravchenko, N. Kwak

研究成果: Article査読

11 被引用数 (Scopus)

抄録

Using the angular correlation between the [Formula presented] emitted in a [Formula presented] decay and the [Formula presented] emitted in the subsequent [Formula presented] decay, we have measured the branching fraction for the inclusive semielectronic decay of the [Formula presented] meson to be [Formula presented]. The measurement uses 1.7 [Formula presented] of [Formula presented] collisions recorded by the CLEO II detector located at the Cornell Electron Storage Ring (CESR). Combining this result with previous CLEO results we find [Formula presented] and [Formula presented]. The difference between this inclusive rate and the sum of the measured exclusive branching fractions (measured at CLEO and other experiments) is also presented.

本文言語English
ページ(範囲)2994-3005
ページ数12
ジャーナルPhysical Review D - Particles, Fields, Gravitation and Cosmology
54
5
DOI
出版ステータスPublished - 1996

ASJC Scopus subject areas

  • Nuclear and High Energy Physics
  • Physics and Astronomy (miscellaneous)

フィンガープリント 「Measurement of the inclusive semielectronic [Formula presented] branching fraction」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

引用スタイル