Measurement of D0 lifetime in e+e- annihilation at high energy

H. Yamamoto, W. B. Atwood, P. H. Baillon, B. C. Barish, G. R. Bonneaud, A. Courau, G. J. Donaldson, R. Dubois, M. M. Duro, E. E. Elsen, S. G. Gao, Y. Z. Huang, G. M. Irwin, R. Johnson, H. Kichimi, J. Kirkby, D. E. Klem, D. E. Koop, J. Ludwig, G. B. MillsA. Ogawa, T. Pal, D. Perret-Gallix, R. Pitthan, D. L. Pollard, C. Y. Prescott, L. Z. Rivkin, L. S. Rochester, W. Ruckstuhl, M. Sakuda, S. Sherman, E. J. Siskind, R. Stroynowski, S. Q. Wang, S. G. Wojcicki, W. G. Yan, C. C. Young

研究成果: Article査読

6 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント 「Measurement of D0 lifetime in e+e- annihilation at high energy」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy