Magnetoresistance and planar Hall effects in submicron exchange-coupled NiO/Fe19Ni81 wires

A. Nemoto, Y. Otani, S. G. Kim, K. Fukamichi, O. Kitakami, Y. Shimada

研究成果: Article査読

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抄録

The magnetization process of the submicron scale exchange-coupled area was successfully examined by magnetotransport measurements. The magnetization reversal was found to take place through coherent rotation in the cross, suggesting the presence of an antiferromagnetic single domain. The magnitude of the exchange coupling field varied inversely proportional to the wire width.

本文言語English
ページ(範囲)4026-4028
ページ数3
ジャーナルApplied Physics Letters
74
26
DOI
出版ステータスPublished - 1999 6 28

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  • 物理学および天文学(その他)

フィンガープリント

「Magnetoresistance and planar Hall effects in submicron exchange-coupled NiO/Fe<sub>19</sub>Ni<sub>81</sub> wires」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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