Intrinsic Josephson junctions in c-axis-oriented La1.85Sr 0.15CuO4 thin films

Y. Mizugaki, Y. Uematsu, S. J. Kim, J. Chen, K. Nakajima, T. Yamashita, H. Sato, M. Naito

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抄録

The current-voltage characteristics (IVC) of intrinsic Josephson junctions (IJJ) in c-axis-oriented La2-xSrxCuO4 (LSCO) thin films were demonstrated. The large intrinsic junctions (LIJ) with a mesa structure exhibited resistively shunted junction (RSJ)-like IVCs. The results indicated that the IJJs in the LSCO thin films are characterized as stacked SIS Josephson junctions and that the grain boundaries act as shunting resistance.

本文言語English
ページ(範囲)2534-2537
ページ数4
ジャーナルJournal of Applied Physics
94
4
DOI
出版ステータスPublished - 2003 8月 15
外部発表はい

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  • 物理学および天文学(全般)

フィンガープリント

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