Influences of annealing conditions on flatband voltage properties using continuously workfunction-tuned metal electrodes

K. Ohmori, P. Ahmet, K. Shiraishi, H. Watanabe, Y. Akasaka, K. Yamabe, M. Yoshitake, K. S. Chang, M. L. Green, K. Yamada, T. Chikyow

研究成果: Conference contribution

本文言語English
ホスト出版物のタイトル1st IEEE International Workshop on Nano CMOS, IEEE IWNC 2006
ページ160-162
ページ数3
DOI
出版ステータスPublished - 2006
イベント1st IEEE International Workshop on Nano CMOS, IEEE IWNC 2006 - Mishima, Shizuoka, Japan
継続期間: 2006 1 302006 2 1

出版物シリーズ

名前2006 International Workshop on Nano CMOS - Proceedings, IWNC

Other

Other1st IEEE International Workshop on Nano CMOS, IEEE IWNC 2006
国/地域Japan
CityMishima, Shizuoka
Period06/1/3006/2/1

ASJC Scopus subject areas

  • ハードウェアとアーキテクチャ
  • 電子工学および電気工学

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