Independent-double-gate FINFET SRAM cell for drastic leakage current reduction

Kazuhiko Endo, Shin Ichi O'uchi, Yuki Ishikawa, Yongxun Liu, Takashi Matsukawa, Kunihiro Sakamoto, Meishoku Masahara, Junichi Tsukada, Kenichi Ishii, Eiichi Suzuki

研究成果: Conference contribution

1 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Independent-double-gate FINFET SRAM cell for drastic leakage current reduction」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science