In-system diagnosis of RF ICs for tolerance against on-chip in-band interferers

N. Azuma, T. Makita, S. Ueyama, M. Nagata, S. Takahashi, M. Murakami, K. Hori, Satoshi Tanaka, M. Yamaguchi

研究成果: Conference contribution

21 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント 「In-system diagnosis of RF ICs for tolerance against on-chip in-band interferers」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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Engineering & Materials Science