Impact of alkali earth elements incorporation on electrical characteristics of La2O3 gated MOS device

T. Koyanagi, K. Okamoto, K. Kakushima, P. Ahmet, K. Tsutsui, A. Nishiyama, N. Sugii, K. Natori, T. Hattori, H. Iwai

研究成果: Conference contribution

1 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Impact of alkali earth elements incorporation on electrical characteristics of La2O3 gated MOS device」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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