Hole mobility behavior in strained SiGe-n-SOI p-MOSFETs

Tae Hun Shim, Seong Je Kim, Gon Sub Lee, Kwan Su Kim, Won Ju Cho, Jea Gun Park

研究成果: Conference contribution

1 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Hole mobility behavior in strained SiGe-n-SOI p-MOSFETs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science