High spatial resolution on-chip active magnetic field probe for IC chip-level near field measurements

Y. Shigeta, N. Sato, K. Arai, M. Yamaguchi, S. Kageyama

研究成果: Conference contribution

フィンガープリント 「High spatial resolution on-chip active magnetic field probe for IC chip-level near field measurements」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy

Engineering & Materials Science