High resolution imaging by 1 MV electron microscopy

M. Hirabayashi, K. Hiraga, D. Shindo

    研究成果: Article査読

    17 被引用数 (Scopus)

    抄録

    High voltage electron microscopy is well suited to the high resolution imaging of local structural changes in a material. New information at atomic resolution can be obtained on a broad range of material problems. Investigations of the structure of dislocations and planar faults in metallic and covalent crystals is presented.

    本文言語English
    ページ(範囲)197-202
    ページ数6
    ジャーナルUltramicroscopy
    9
    3
    DOI
    出版ステータスPublished - 1982

    ASJC Scopus subject areas

    • 電子材料、光学材料、および磁性材料
    • 原子分子物理学および光学
    • 器械工学

    フィンガープリント

    「High resolution imaging by 1 MV electron microscopy」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    引用スタイル