抄録

This paper investigates the mechanism underlying faulty outputs from cryptographic modules due to intentional electromagnetic interference (IEMI), which causes information leakage in electronic devices without disrupting their functions or damaging their components. We show this fault mechanism through experiments using the faulty ciphertexts and pulse injection to a specific round in the encryption process. The experimental results indicate that faulty outputs from cryptographic modules are caused by setup time violation in the cryptographic module.

本文言語English
ページ(範囲)72-78
ページ数7
ジャーナルElectronics and Communications in Japan
99
9
DOI
出版ステータスPublished - 2016 9月 1

ASJC Scopus subject areas

  • 信号処理
  • 物理学および天文学(全般)
  • コンピュータ ネットワークおよび通信
  • 電子工学および電気工学
  • 応用数学

フィンガープリント

「Fundamental Study on a Mechanism of Faulty Outputs from Cryptographic Modules Due to IEMI」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

引用スタイル