Functional probes for scanning probe microscopy

K. Akiyama, T. Eguchi, T. An, Y. Fujikawa, T. Sakurai, Y. Hasegawa

研究成果: Article査読

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抄録

Functional probes such as a metal-tip cantilever and a glass-coated tungsten tip for scanning probe microscopy (SPM) were fabricated utilizing focused ion beam method. Using the functional probes, we obtained results which were hard to reach by usual SPM probes.

本文言語English
論文番号005
ページ(範囲)22-25
ページ数4
ジャーナルJournal of Physics: Conference Series
61
1
DOI
出版ステータスPublished - 2007 4 1
外部発表はい

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  • 物理学および天文学(全般)

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「Functional probes for scanning probe microscopy」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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