Experimental demonstration and analysis of high performance and low 1/f noise Tri-gate MOSFETs by optimizing device structure

Weitao Cheng, Akinobu Teramoto, Tadahiro Ohmi

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フィンガープリント

「Experimental demonstration and analysis of high performance and low 1/f noise Tri-gate MOSFETs by optimizing device structure」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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