Exciting possibilities of soft x-ray emission spectroscopy as chemical state analysis in EPMA and FESEM

H. Takahashi, N. Handa, T. Murano, M. Terauchi, M. Koike, T. Kawachi, T. Imazono, N. Hasegawa, M. Koeda, T. Nagano, H. Sasai, Y. Oue, Z. Yonezawa, S. Kuramoto

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本文言語English
ページ(範囲)684-685
ページ数2
ジャーナルMicroscopy and Microanalysis
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3
DOI
出版ステータスPublished - 2014 8 1
イベントMicroscopy and Microanalysis 2014, M and M 2014 - Hartford, United States
継続期間: 2014 8 32014 8 7

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