Evaluation of power SiC-MOSFET using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy: Imaging of carrier distribution and depletion layer

N. Chinone, Y. Cho, T. Nakamura

研究成果: Paper査読

フィンガープリント

「Evaluation of power SiC-MOSFET using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy: Imaging of carrier distribution and depletion layer」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science