Enhanced detection of longitudinal field of a radially polarized beam in confocal laser microscopy

Yuichi Kozawa, Shunichi Sato

研究成果: Conference contribution

抄録

The wave scattered by the longitudinal component of a tightly focused radially polarized beam is clearly detected in a confocal system, which may lead to the enhancement of the spatial resolution in confocal microscopy.

本文言語English
ホスト出版物のタイトル2015 Conference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2015
出版社Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
ISBN(電子版)9781557529688
出版ステータスPublished - 2015 8 10
イベントConference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2015 - San Jose, United States
継続期間: 2015 5 102015 5 15

出版物シリーズ

名前Conference on Lasers and Electro-Optics Europe - Technical Digest
2015-August

Other

OtherConference on Lasers and Electro-Optics, CLEO 2015
国/地域United States
CitySan Jose
Period15/5/1015/5/15

ASJC Scopus subject areas

  • 電子工学および電気工学
  • 原子分子物理学および光学
  • 電子材料、光学材料、および磁性材料

フィンガープリント

「Enhanced detection of longitudinal field of a radially polarized beam in confocal laser microscopy」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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