Electronic Characteristic Changes of Semiconductor Devices Caused by Packaging Stress

Hideo Miura, Asao Nishimura

研究成果: Article査読

11 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Electronic Characteristic Changes of Semiconductor Devices Caused by Packaging Stress」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science

Chemical Compounds