Electrical characteristics of SiO2/high-k dielectric stacked tunnel barriers for nonvolatile memory applications

Goon Ho Park, Kwan Su Kim, Myung Ho Jung, Won Ju Cho, Jongwan Jung

研究成果: Article査読

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フィンガープリント

「Electrical characteristics of SiO2/high-k dielectric stacked tunnel barriers for nonvolatile memory applications」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Physics & Astronomy