Effects of interface roughness on the local valence electronic structure at the SiO2/Si interface: Soft X-ray absorption and emission study

Y. Yamashita, S. Yamamoto, K. Mukai, J. Yoshinobu, Y. Harada, T. Tokushima, Y. Takata, S. Shin

研究成果: Conference contribution

2 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Effects of interface roughness on the local valence electronic structure at the SiO2/Si interface: Soft X-ray absorption and emission study」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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