Effect of delamination at chip/encapsulant interface on chip stress and transistor characteristics

Hideo Miura, Tetsuo Kumazawa, Asao Nishimura

研究成果: Paper査読

18 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Effect of delamination at chip/encapsulant interface on chip stress and transistor characteristics」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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