Development of wavelength-dispersive X-ray spectrometer for a conventional analytical transmission electron microscope

M. Terauchi, M. Koike, K. Fukushima, J. Kimura

研究成果: Article査読

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本文言語English
ページ(範囲)866-867
ページ数2
ジャーナルMicroscopy and Microanalysis
12
SUPPL. 2
DOI
出版ステータスPublished - 2006 8月

ASJC Scopus subject areas

  • 器械工学

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