Development of high-throughput batch-type epitaxial reactor

Y. Kunii, Y. Inokuchi, J. Wang, K. Yamamoto, A. Moriya, Y. Hashiba, H. Kurokawa, J. Murota

研究成果: Conference contribution

3 被引用数 (Scopus)

抄録

Si/SiGe selective epitaxial growth is becoming a critical process step for ULSI fabrication on 65nm and beyond technologies with need for elevated source-drain or strained Si channel to enhance device performance. This paper reviews recent efforts to improve batch-type epitaxial reactors for high-volume device fabrication and shows recent progress in low-temperature Si/SiGe selective epi process. copyright The Electrochemical Society.

本文言語English
ホスト出版物のタイトルSiGe and Ge
ホスト出版物のサブタイトルMaterials, Processing, and Devices
出版社Electrochemical Society Inc.
ページ841-847
ページ数7
7
ISBN(電子版)1566775078
DOI
出版ステータスPublished - 2006
外部発表はい
イベントSiGe and Ge: Materials, Processing, and Devices - 210th Electrochemical Society Meeting - Cancun, Mexico
継続期間: 2006 10月 292006 11月 3

出版物シリーズ

名前ECS Transactions
番号7
3
ISSN(印刷版)1938-5862
ISSN(電子版)1938-6737

Other

OtherSiGe and Ge: Materials, Processing, and Devices - 210th Electrochemical Society Meeting
国/地域Mexico
CityCancun
Period06/10/2906/11/3

ASJC Scopus subject areas

  • 工学(全般)

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「Development of high-throughput batch-type epitaxial reactor」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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