Development of evaluation method for estimating stress-induced change in drain current in deep-sub-micron MOSFETs

Yukihiro Kumagai, Hiroyuki Ohta, Hideo Miura, Akihiro Shimizu, Shiro Kamohara, Keiichi Maekawa

研究成果: Article査読

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フィンガープリント

「Development of evaluation method for estimating stress-induced change in drain current in deep-sub-micron MOSFETs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Chemical Compounds

Engineering & Materials Science