Depth resolved and elemental selective XRF and XAS in surface layer of annealed Fe-Cr alloys

K. Shinoda, Shigeo Sato, S. Suzuki, H. Toyokawa, H. Tanida, T. Uruga

研究成果: Conference contribution

フィンガープリント Depth resolved and elemental selective XRF and XAS in surface layer of annealed Fe-Cr alloys' の研究トピックを掘り下げます。これらはともに一意のフィンガープリントを構成します。

Chemical Compounds

Engineering & Materials Science

Physics & Astronomy