Chemical-state-resolved in-depth profiles of gate-stack structures on Si studied by angular-dependent photoemission spectroscopy

S. Toyoda, J. Okabayashi, M. Oshima, G. L. Liu, Z. Liu, K. Ikeda, K. Usuda

研究成果: Article査読

12 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Chemical-state-resolved in-depth profiles of gate-stack structures on Si studied by angular-dependent photoemission spectroscopy」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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