Atomic-scale depth profiling of composition, chemical structure and electronic band structure of La 2 O 3 /Si(1 0 0) interfacial transition layer

H. Nohira, T. Shiraishi, K. Takahashi, T. Hattori, I. Kashiwagi, C. Ohshima, S. Ohmi, H. Iwai, S. Joumori, K. Nakajima, M. Suzuki, K. Kimura

    研究成果: Conference article査読

    25 被引用数 (Scopus)

    フィンガープリント

    「Atomic-scale depth profiling of composition, chemical structure and electronic band structure of La <sub>2</sub> O <sub>3</sub> /Si(1 0 0) interfacial transition layer」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

    Engineering & Materials Science

    Physics & Astronomy

    Chemical Compounds