Atomic-resolution scanning transmission electron microscopy with segmented annular all field detector

N. Shibata, S. D. Findlay, Y. Ikuhara

研究成果: Conference article査読

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本文言語English
ページ(範囲)64-65
ページ数2
ジャーナルMicroscopy and Microanalysis
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3
DOI
出版ステータスPublished - 2014 8月 1
外部発表はい
イベントMicroscopy and Microanalysis 2014, M and M 2014 - Hartford, United States
継続期間: 2014 8月 32014 8月 7

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  • 器械工学

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