Artifacts in the structural analysis of SAB-fabricated interfaces by using focused ion beam

Yutaka Ohno, Hideto Yoshida, Naoto Kamiuchi, Ryotaro Aso, Seiji Takeda, Yasuo Shimizu, Naoki Ebisawa, Yasuyoshi Nagai, Jianbo Liang, Naoteru Shigekawa

研究成果: Conference contribution

1 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Artifacts in the structural analysis of SAB-fabricated interfaces by using focused ion beam」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Engineering & Materials Science

Chemical Compounds